• 1MHz～3GHz，以10kHz分档
• 阻抗测量范围宽，从200mΩ到3kΩ
• 在低试信号电平上具有优良的测量重复性
• 基本精度为1%
• 高速测量:10ms

安捷伦 4287A射频LCR测试仪在1 MHz～3 GHz频率范围可以提供**、可靠和快速测量，以改进生产线上对电子元件进行测试的质量和生产率。与反射测量技术不同，采用直流电压测量技术能在大的阻抗范围进行**测量。

生产率高、质量可靠

安捷伦 4287A 适于在射频范围对电子元器件进行测试。4287A的测量速度非常快。此外，在小测试电流(100mA)处优良的测试重复性还可以显著提高生产率，因为所需的取平均过程非常短。

系统组建简单

测试头电缆(1m或利用延伸电缆时为2m)很容易接到(元件固定装置的)被测件接点附近，而不会使误差有任何增大。内置比较器功能、高速GPIB接口和处理器接口可用来简化与元件固定装置和PC机的组合。增强的比较器功能可以使复杂的仓室适用于多频或阵列芯片测试。

便于使用

8.4英寸彩色显示器能清楚观察测量设置和结果。新研制的用户接口使操作过程更为方便且无差错。内置统计分析功能可以提供监视测试质量和效率的过程。可选用的LAN接口有助于统一进行生产监控。此外，若干APC-7，SMD测试夹具可以与4287所提供的夹具架和APC-3.5转APC-7适配器联用，从而无需制作专用夹具。

技术指标

测量参数：|Z|，|Y|，L，C, R，D, Q, X，G，B，θ
测量电路形式：串联和并联
工作频率：1 MHz～3 GHz
频率分辨率：10 kHz
信号源特性：
振荡器电平：5mVrms～0.25Vrms(输出端开路)
电平显示单位：V，I，dBm
连接器：APC-3.5
输出阻抗(额定值)：50Ω
触发：内部，外部，手动和GPIB
阻抗测量范围：200 mΩ～3 kΩ
基本测量精度：|Z|:1%；D:0.01
测量时间：10 ms
接口：GPIB，处理器接口
显示器：8.4英寸彩色LCD显示器
储存：内置HDD/FDD，备用SRAM存储器

一般指标

工作温度/湿度：10～40℃/相对湿度15%～80%
预热时间：30分钟
电源要求：90V～132V,或198V～264V，47Hz～66Hz，500VA(*大值)
尺寸：主机：426mm(宽)×234mm(高)×446mm(长)

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