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Keithley 4200A-SCS 参数分析仪
产品型号:
简介:

使用 4200A-SCS参数分析仪(参数测试仪)加快各类材料、半导体器件和先进工艺的开发,完成制程控制、可靠性分析和故障分析。4200A-SCS是业内性能电学特性参数分析仪,提供同步电流电压曲线测试 (I-V曲线测试)、电容-电压曲线测试 (C-V曲线测试) 和超快脉冲 I-V曲线测量。

Keithley 4200A-SCS 参数分析仪  的详细介绍

参数查看,快速清晰。

推进大胆发现从未如此容易。4200A-SCS 参数分析仪从设置到运行检定测试的时间减少高达 50%,从而实现****的测量和分析能力。此外,嵌入式测量专业知识提供****的测试指导,并让您对终结果充满信息。

特点

  • 用于 DC IV、CV 和脉冲 IV 测量类型的测量硬件
  • 立即使用 Clarius 软件中所含的数百种用户可修改应用程序测试开始测试


  • 自动实时参数提取、数据绘图、分析函数
  • 准确的 C-V 表征

    使用吉时利新的电容-电压单元 (CVU) 4215-CVU 测量一位数飞法。通过将 1 V AC 电源集成到吉时利行业的 CVU 架构中,4215-CVU 可在 1 kHz 至 10 MHz 的频率下进行低噪声电容测量。

    特点

    • 同类产品中首款能够驱动1 V AC 电源电压的 CV 表
    • 1 kHz 频率,分辨率从1 kHz 到 10 MHz
    • 测量电容、电导和导纳
    • 使用 4200A-CVIV 多路开关多可测量四个通道

    使用 4215-CVU 进行 Femtofarad (1e-15F) 电容测量

    4200A SCS Front Femtofarad

    测量、 切换、 重复。

    4200A-CVIV 多通道切换模块自动在 I-V 和 C-V 测量之间切换,无需重新布线或抬起探头端部。 与竞争产品不同,四通道 4200A-CVIV 显示器提供本地可视查看,可快速完成测试设置,并在出现意想不到的结果时轻松排除故障。

    特点

    • 无需重新布线即可将 C-V 测量移动到任何设备终端
    • 用户可配置低电流功能
    • 个性化输出通道名称
    • 查看实时测试状态

    稳定的低电流测量,适用于 I-V 检定

    使用 4201-SMU 和 4211-SMU 模块,您可以在高电容系统中实现稳定的低电流测量。4200A-SCS 有四种型号的源测量单位 (SMU) 可供选择,可通过定制满足您所有的 I-V 测量需求。通过提供现场可安装单元和可选的预放大器模块,Keithley 可确保您获得准确的低电流测量,而停机时间很少甚至没有。

    特点

    • 不必将仪器送回工厂即可增加 SMU
    • 进行 飞安测量
    • 多达 9 个 SMU 通道
    • 针对长电缆或大卡盘进行了优化

    带分析探测器和低温控制器的集成解决方案

    4200A-SCS 参数分析仪支持许多手动和半自动晶片探测器和低温控制器,包括 MPI、Cascade MicroTech、Lucas Labs/Signatone、MicroManipulator、Wentworth Laboratories、LakeShore Model 336 低温控制器。

    特点

    • “点击”测试定序
    • “手动”探测器模式测试探测器功能
    • 假探测器模式无需移除命令即可实现调试


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