美国泰克TEK370A TEK370A半导体器件高精度测量
主要参数：·半导体器件高精度测量 -上限达2000V或电流到10A的源（370A） -上限到3000V（371A） -上限到220W（370A） -上限到400A（371A） -1nA的测量分辨率 -上限到3000W（371A） ·上限到2mV的测量分辨率（370A） ·波形对比 ·包络显示 ·波形平均 ·点光标（370A） ·Kelvin传感测量 ·全程控 ·MS-DOS兼容的软盘，方便设置参孝存储和调用 应用 手动或自动进行半导体高分辨率DC参数测量 来料检查 生产测试 过程监视及质量控制 数据报告的生成 元件配对 失效分析 工程测试 交互式程控 所有交互式程控测量是通过有鲜明特点的前面板或GPIB来完成的。使用几种存储方式，调整和存储操作参数，包括370A的非 易失存储器、内置的MS-DOS兼容的软盘或到外部控制器。 测试夹具 测试夹具是标准附件，它提供被测器件**防护，以保护测量人员的**。测试夹具适应标准的A1001，中间通过Kelvin传 感的A1005适配器、无Kelvin传感的3芯适配器和A1023、A1024表面封装适配器。 370A程控特性曲线图示仪 370A是全球杰出的高分辨率特性曲线图示仪，可应用到许多场合。370A能完成晶体管、闸流管、二极管、可控硅、场效应管 、光电元件、太阳能电池、固态显示和其它半导体器件的直流参数特性的测试。 在研发实验室，用370A来完成新器件、SPIEC参数的提取、失败分析和产生数据报告这些具体的测试工作 在制造过程中，用370A检验器件质量及过程监视。 370A可进行来料检查、器件性能测试、失效分析和器件配对这些测试工作。 技术指标 集电极电源 模式 AC,±DC,±泄露，±整流的正弦波 范围 *大峰值电流（±） 峰值电流（脉冲式）（±） 16V 10A 20A 80V 2A 4A 400V 0.4A 0.8A 2000V 0.05A 0.1A 阶梯信号发生器 模式 阶梯：DC,80μS脉冲，300μS脉冲 阶梯量程- 电流： 50nA到200mA，按1-2-5顺序 电压： 50mV到2V，按1-2-5顺序 偏置 *大到±10X阶梯幅度 阶梯数 0到10 测量特性 集电极电流- 测试量程： 100nA/div(1nA分辨率）至2A/div误差，1.5%光标读出 0.05div设定值（点光标） 发射极电流- 测试量程： 1nA/div(10pA分辨率）至2mA/div 误差 1.5%光标读出 0.05div设定值 1nA **标准 UL1244，CSA231，HD401S1
粤公网安备 44030702000874号
